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Metrology and Standardization for Nanotechnology
von:
Elisabeth Mansfield, Debra L. Kaiser, Daisuke Fujita, Marcel Van de Voorde
Verlag:
Preis:
CHF 164.00
Format:
PDF
Sprache:
englisch
Anzahl Seiten:
626
DRM-geschütztes eBook, Sie benötigen z.B. Adobe Digital Editions und eine Adobe ID zum Lesen.
Metrology and Standardization for Nanotechnology
von:
Elisabeth Mansfield, Debra L. Kaiser, Daisuke Fujita, Marcel Van de Voorde
Verlag:
Preis:
CHF 164.00
Format:
EPUB
Sprache:
englisch
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626
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